实验教学
 

X射线荧光分析室

发布日期:2024-08-29   发布人:   浏览次数:;

ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪

英文名:X-ray fluorescence spectrometer

型号: ZSX Primus

制造商:日本株式会社理学(Rigaku

房间:化学实验楼127  负责人:吴华涛  联系电话:18437505815

年份:2016

主要特点:

1. 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高

2. 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75

3. 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统

4. 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm

5. 完美的无标样分析-最新的SQX软件

6. 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

应用范围:

1. 能分析元素周期表中F9)~U92)之间所有元素

2. 样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等

3. 分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。               

主要技术参数
硬件:

 1. X射线光管:4kW30μm薄窗X射线光管 
2.
光学系统:采用新型分光晶体 
3.
样品交换器:最多可放置48个样品 
4. 1
X射线滤光片:除去X射线光管的特征X射线光谱。 
5.
真空系统:采用双真空系统(样品室/预抽真空室)

6. 粉末附件:电磁阀真空密封 

7. 定点分析:位置分辨率可达100um,可以进行0.5mm的微区分析

8. 循环冷却水:5 L/min

9. PR气体流速:5 mL/min
10.
样品台:使用r-θ样品台

太阳成集团tyc122cc2024-2025学年第一学期实验教学课表
课程 实验项目 实验时数 指导教师 周次 节次 实验(分)室
[32123703]   仪器分析 X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 4.0 刘沛松 4 三[5-8节] C127X射线荧光分析室
[32123703] 仪器分析 X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 4.0 刘沛松 4 五[1-4节] C127X射线荧光分析室
[32123703] 仪器分析 X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 4.0 刘沛松 4 五[5-8节] C127X射线荧光分析室
[32123703] 仪器分析 X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 4.0 刘沛松 4 六[1-4节] C127X射线荧光分析室
[32123703] 仪器分析 X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 4.0 刘沛松 4 六[5-8节] C127X射线荧光分析室
[32123703] 仪器分析 X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 4.0 刘沛松 4 七[5-8节] C127X射线荧光分析室


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